Conferenza 2018
Il microscopio a forza atomica
Mercoledì 14 marzo dalle ore 10.00 alle ore 12.00
Casa circondariale di Sollicciano, via Girolamo Minervini n. 2/R, Firenze
Relatore: Bruno Tiribilli, Cnr-Istituto dei sistemi complessi
La microscopia a forza atomica (AFM) ci fa scoprire l’estremamente piccolo. Il microscopio a forza atomica (AFM) esplora la superficie del campione da esaminare con una particolare sonda: una piccolissima punta molto acuminata e sospesa all’estremità di una striscia sottile e molto flessibile.