Firenze

Mercoledì 14 marzo dalle ore 10.00 alle ore 12.00
Casa circondariale di Sollicciano, via Girolamo Minervini n. 2/R, Firenze

Relatore:  Bruno Tiribilli, Cnr-Istituto dei sistemi complessi

La microscopia a forza atomica (AFM) ci fa scoprire l’estremamente piccolo. Il microscopio a forza atomica (AFM) esplora la superficie del campione da esaminare con una particolare sonda: una piccolissima punta molto acuminata e sospesa all’estremità di una striscia sottile e molto flessibile. 

Questo tipo di strumenti consente di osservare la superfice di un campione e apprezzare dettagli delle dimensioni di qualche nanometro (un miliardesimo di metro!) non visibili con i microscopi ottici tradizionali. Questo tipo di microscopia è utilizzato spesso nel settore delle nanotecnologie ma ha anche moltissime ed importanti applicazioni nello studio di materiali biologici quali cellule, DNA e proteine. Nella mia presentazione userò un modello in scala realizzato con il Lego per illustrare il principio di funzionamento.

Ingresso riservato
Evento dedicato ai detenuti

Per informazioni: Questo indirizzo email è protetto dagli spambots. È necessario abilitare JavaScript per vederlo.